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HP4284ALCR测试仪

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最后更新: 2017-12-17 13:52
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“HP4284ALCR测试仪”参数说明

加工定制: 类型: 高速LCR测量仪

“HP4284ALCR测试仪”详细介绍

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LCR测试仪 产品型号:4284A 厂商名称:惠普-HP 产品简述: HP 4284A  精密LCR仪表性能指标 频率范围:20HZ—1MHZ 阻抗范围:0.01mΩ-100MΩ 基本测量精度:0.05% 主要用途 测试材料的电导率ρ、介电常数ε、电阻R、电抗X、阻抗Z、导纳Y、电导G、电纳B、电感L、介电损耗D、品质因数Q。 可以完成材料的介电温谱测试,测试温度范围:室温 -1000℃ 电桥 HP4284A0.05%的基本精度,6位数字分辨率 恒定的V或I测试信号电平 20Vrms电平选件(选件001) 用Alilent 42841A进给出40Adc 具有列表扫描测量功能 Agilent 4284A精密LCR测试仪是用于元件和材料测量的价廉物美的仪器。它通过提供精确、高吞吐量的测试方法来改善元件的质量。20Hz到1MHz宽的测频范 围和优良的测试信号,使4284A在测试元件时符合最通行的测试标准如IEC/MIL标准(国际电工委员会或美国**标准),且工作在模拟所使用的工作条 件下。无论在研究开发、生产、质量保证中还是进货检验,4284A都能满足全部LCR测量要求。 电桥 HP4284A技术指标 被测参数 |Z|-θ,|Y|-θ,R-X,G-B,C-D,Q,ESR,G,Rp,L-D,Q,ESR,G,Rp;偏差和%偏差 测量电路模式 串联和并联 量程转换 自动和手动 触发 内部、外部和总线(HP-IB) 延迟时间 0-60.00s以1ms步进 测量终端 四端对 测试电缆长度 标准:0和1m;带选件006时:0、1、2和4m 积分时间: 短、中等和长 取平均: 1-256可程控 测试信号: 20Hz-1MHz±0.01%8610个可选择频率 测试信号方式: 标准: 分别在开路或短路的测量端,而不是在被测件上对选一的电压或电流编程 恒定: 维持被测件上选定的电压或电流,而与器件阻抗和变化无关 测试信号: 电平 标准 恒定 4284A 5mV~2V,50μA-20mA 10mV-1V,100μA-10mA 选件001 5mV~2V,50μA-200mA 10mV-10V,100μA-100mA 直流偏置: 标准:0V,1.5V和2V 选件:0V-±40V 测量显示范围 参数 范围 |Z|,R,X 0.01mΩ-99.9999MΩ |Y|,G,B 0.01nS-99.9999S C HP 4284A:0.01fF-9.9999F L HP 4284A:0.01nH-99.9999kH D 0.000001-9.99999 Q 0.01-99999.9 θ -180.000°~180.000° Δ% -999.999%~999.999% 基本测量精度 |Z|,C,L D 0.05% 0.0005 补充特性: 测量时间: 从触发命令到处理器界面连接器上的结束测量(EOM)输出的典型测量时间 短 40ms 中等 190ms 长 830ms 选件001直流偏流输出 100mA max 显示器: LCD点阵显示: 显示被测值,控制设置,比较极限和判决,列表扫描表,自测试信息和信号指示 修正功能 开路/短路误差为0:消除由测试夹具杂散寄生阻抗引起的测量误差 接负载: 利用已校器件作为参考来改善测量精度 列表扫描功能 最多可对10个频率或测试信号电平编程。可进行单次测试或顺序测试,当安装上选件001时,还能进行直流偏压测试 比较器 10仓室(ten-bin)分类用于一次测量参数。输入/输出用于一次测量参数 仓室计数: 0-999999 列表扫描比较器: 高/符合/低判定输出用于列表扫描表中的每个测量点 其它功能: 存储/加载: 10个仪器设置可以由内部非易失存储器存储/加载。10个附加设置还能由一个储存卡存储/加载 HP-IB 所有仪器控制设置,被测值,比较极限,列表扫描表和自测试结果 存储器: 存储缓存器能存储最多128个测量结果,并经GPIB输出数据,ASCII和64位二进制数据格式 一般技术指标 电源要求 100/120/220V±10%,240V 5%/-10%,47-66Hz 功耗 200VA max 工作温度和湿度 0°~55℃,在40℃时相对湿度≤95% 尺寸 42mm(宽)*177(高)

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