“安柏代理AT770电感测试仪”参数说明
品牌: | 安柏 | 加工定制: | 否 |
类型: | 数字电桥 | 电阻测量范围: | 30/50/100Ω |
准确度等级: | 0.01 | 重量: | 5 |
型号: | AT770电感测试仪 | 规格: | AT770电感测试仪 |
商标: | 安柏 | 包装: | 纸箱 |
“安柏代理AT770电感测试仪”详细介绍
测试参数:L, Q, ESR, EPR;准确度:0.1%,VFD显示,最大33000读数测试频率:100Hz, 120Hz, 1kHz, 10kHz 电平:0.1V, 0.3V, 1.0V,输出阻抗:30/100Ω三参数显示,最高15次/秒测试,20组记录,5档分选,RS232和Handler接口
测试参数:L, Q, ESR, EPR;准确度:0.1%,VFD显示,最大33000读数测试频率:100Hz, 120Hz, 1kHz, 10kHz 电平:0.1V, 0.3V, 1.0V,输出阻抗:30/100Ω三参数显示,最高15次/秒测试,20组记录,5档分选,RS232和Handler接口测试参数:L, Q, ESR, EPR;准确度:0.1%,VFD显示,最大33000读数测试频率:100Hz, 120Hz, 1kHz, 10kHz 电平:0.1V, 0.3V, 1.0V,输出阻抗:30/100Ω三参数显示,最高15次/秒测试,20组记录,5档分选,RS232和Handler接口测试参数:L, Q, ESR, EPR;准确度:0.1%,VFD显示,最大33000读数测试频率:100Hz, 120Hz, 1kHz, 10kHz 电平:0.1V, 0.3V, 1.0V,输出阻抗:30/100Ω三参数显示,最高15次/秒测试,20组记录,5档分选,RS232和Handler接口测试参数:L, Q, ESR, EPR;准确度:0.1%,VFD显示,最大33000读数测试频率:100Hz, 120Hz, 1kHz, 10kHz 电平:0.1V, 0.3V, 1.0V,输出阻抗:30/100Ω三参数显示,最高15次/秒测试,20组记录,5档分选,RS232和Handler接口测试参数:L, Q, ESR, EPR;准确度:0.1%,VFD显示,最大33000读数测试频率:100Hz, 120Hz, 1kHz, 10kHz 电平:0.1V, 0.3V, 1.0V,输出阻抗:30/100Ω三参数显示,最高15次/秒测试,20组记录,5档分选,RS232和Handler接口测试参数:L, Q, ESR, EPR;准确度:0.1%,VFD显示,最大33000读数测试频率:100Hz, 120Hz, 1kHz, 10kHz 电平:0.1V, 0.3V, 1.0V,输出阻抗:30/100Ω三参数显示,最高15次/秒测试,20组记录,5档分选,RS232和Handler接口测试参数:L, Q, ESR, EPR;准确度:0.1%,VFD显示,最大33000读数测试频率:100Hz, 120Hz, 1kHz, 10kHz 电平:0.1V, 0.3V, 1.0V,输出阻抗:30/100Ω三参数显示,最高15次/秒测试,20组记录,5档分选,RS232和Handler接口测试参数:L, Q, ESR, EPR;准确度:0.1%,VFD显示,最大33000读数测试频率:100Hz, 120Hz, 1kHz, 10kHz 电平:0.1V, 0.3V, 1.0V,输出阻抗:30/100Ω三参数显示,最高15次/秒测试,20组记录,5档分选,RS232和Handler接口测试参数:L, Q, ESR, EPR;准确度:0.1%,VFD显示,最大33000读数测试频率:100Hz, 120Hz, 1kHz, 10kHz 电平:0.1V, 0.3V, 1.0V,输出阻抗:30/100Ω三参数显示,最高15次/秒测试,20组记录,5档分选,RS232和Handler接口测试参数:L, Q, ESR, EPR;准确度:0.1%,VFD显示,最大33000读数测试频率:100Hz, 120Hz, 1kHz, 10kHz 电平:0.1V, 0.3V, 1.0V,输出阻抗:30/100Ω三参数显示,最高15次/秒测试,20组记录,5档分选,RS232和Handler接口测试参数:L, Q, ESR, EPR;准确度:0.1%,VFD显示,最大33000读数测试频率:100Hz, 120Hz, 1kHz, 10kHz 电平:0.1V, 0.3V, 1.0V,输出阻抗:30/100Ω三参数显示,最高15次/秒测试,20组记录,5档分选,RS232和Handler接口
测试参数:L, Q, ESR, EPR;准确度:0.1%,VFD显示,最大33000读数测试频率:100Hz, 120Hz, 1kHz, 10kHz 电平:0.1V, 0.3V, 1.0V,输出阻抗:30/100Ω三参数显示,最高15次/秒测试,20组记录,5档分选,RS232和Handler接口测试参数:L, Q, ESR, EPR;准确度:0.1%,VFD显示,最大33000读数测试频率:100Hz, 120Hz, 1kHz, 10kHz 电平:0.1V, 0.3V, 1.0V,输出阻抗:30/100Ω三参数显示,最高15次/秒测试,20组记录,5档分选,RS232和Handler接口测试参数:L, Q, ESR, EPR;准确度:0.1%,VFD显示,最大33000读数测试频率:100Hz, 120Hz, 1kHz, 10kHz 电平:0.1V, 0.3V, 1.0V,输出阻抗:30/100Ω三参数显示,最高15次/秒测试,20组记录,5档分选,RS232和Handler接口测试参数:L, Q, ESR, EPR;准确度:0.1%,VFD显示,最大33000读数测试频率:100Hz, 120Hz, 1kHz, 10kHz 电平:0.1V, 0.3V, 1.0V,输出阻抗:30/100Ω三参数显示,最高15次/秒测试,20组记录,5档分选,RS232和Handler接口测试参数:L, Q, ESR, EPR;准确度:0.1%,VFD显示,最大33000读数测试频率:100Hz, 120Hz, 1kHz, 10kHz 电平:0.1V, 0.3V, 1.0V,输出阻抗:30/100Ω三参数显示,最高15次/秒测试,20组记录,5档分选,RS232和Handler接口测试参数:L, Q, ESR, EPR;准确度:0.1%,VFD显示,最大33000读数测试频率:100Hz, 120Hz, 1kHz, 10kHz 电平:0.1V, 0.3V, 1.0V,输出阻抗:30/100Ω三参数显示,最高15次/秒测试,20组记录,5档分选,RS232和Handler接口测试参数:L, Q, ESR, EPR;准确度:0.1%,VFD显示,最大33000读数测试频率:100Hz, 120Hz, 1kHz, 10kHz 电平:0.1V, 0.3V, 1.0V,输出阻抗:30/100Ω三参数显示,最高15次/秒测试,20组记录,5档分选,RS232和Handler接口测试参数:L, Q, ESR, EPR;准确度:0.1%,VFD显示,最大33000读数测试频率:100Hz, 120Hz, 1kHz, 10kHz 电平:0.1V, 0.3V, 1.0V,输出阻抗:30/100Ω三参数显示,最高15次/秒测试,20组记录,5档分选,RS232和Handler接口测试参数:L, Q, ESR, EPR;准确度:0.1%,VFD显示,最大33000读数测试频率:100Hz, 120Hz, 1kHz, 10kHz 电平:0.1V, 0.3V, 1.0V,输出阻抗:30/100Ω三参数显示,最高15次/秒测试,20组记录,5档分选,RS232和Handler接口测试参数:L, Q, ESR, EPR;准确度:0.1%,VFD显示,最大33000读数测试频率:100Hz, 120Hz, 1kHz, 10kHz 电平:0.1V, 0.3V, 1.0V,输出阻抗:30/100Ω三参数显示,最高15次/秒测试,20组记录,5档分选,RS232和Handler接口测试参数:L, Q, ESR, EPR;准确度:0.1%,VFD显示,最大33000读数测试频率:100Hz, 120Hz, 1kHz, 10kHz 电平:0.1V, 0.3V, 1.0V,输出阻抗:30/100Ω三参数显示,最高15次/秒测试,20组记录,5档分选,RS232和Handler接口