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日置IM3523 LCR测试仪

产品/服务:
有效期至: 长期有效
最后更新: 2017-09-15 15:25
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“日置IM3523 LCR测试仪”参数说明

认证: CE 品牌: 日本日置HIOKI
类型: 高速LCR测量仪 测量范围: 100mΩ~100MΩ
测量准确度: ±0.05% 测量频率: DC,40Hz~200kHz
测量速度: 2ms 型号: IM3523
规格: LCR测试仪 商标: HIOKI
包装: 纸箱 体积: 260mm W×88mm H×203mm
输出阻抗: 正常模式:100Ω 接口: EXT I/O(处理器),USB通信(高速)
显示: 单色LCD 基本精度: Z : ±0.05%rdg. θ: ±0.03°
重量: 2.4KG 附件: 电源线×1,操作手册×1,CD-R(包括PC指令和样本软件)×1
测量参数: Z,Y,θ,Rs(ESR),Rp,DCR(DC电阻),X,G,B,Cs,Cp,Ls,Lp,D(tan 测量模式: LCR,连续测试
测量时间: 2ms(1kHz,FAST,代表值)

“日置IM3523 LCR测试仪”详细介绍

深圳市温德尔科技有限公司欢迎你的选购,质量保证,价格优惠!热线:0755-2930482713699821085www.szwinder.com产品概要:应用于生产线和自动化测试领域的理想选择基本精度±0.05%,测量范围广泛(DC,40Hz~200kHz,5mV~5V,10μA~50mA)在比如C-D和ESR这样的混合测量条件下,可以以往产品10倍的速度不间断测试。内置比较器和BIN功能2毫秒的快速测试时间本产品不标配测量探头和测试夹具。请结合应用单独选择和购买合适的测量探头和测试夹具。所有探头均带有一个1.5D-2V的同轴电缆。RS-232C接口连接:交互连接可使用交叉电缆。您可使用RS-232C电缆9637,不需要硬件控制器。基本参数测量模式LCR,连续测试测量参数Z,Y,θ,Rs(ESR),Rp,DCR(DC电阻),X,G,B,Cs,Cp,Ls,Lp,D(tanδ),Q测量量程100mΩ~100MΩ,10个量程(所有参数根据Z定义)可显示量程Z,Y,Rs,Rp,Rdc,X,G,B,Ls,Lp,Cs,Cp:±(0.000000[单位]*~9.99999G[单位])(*为最高分辩率时的显示位数)只有Z和Y显示真有效值θ:±(0.000°~999.999°),D:±(0.00000~9.99999)Q:±(0.00~99999.9),Δ%:±(0.0000%~999.999%)基本精度Z:±0.05%rdg.θ:±0.03°测量频率40Hz~200kHz(1mHz~10Hz)测量信号电平正常模式V模式,CV模式:5mV~5Vrms,1mVrmsCC模式:10μA~50mArms,10μArms输出阻抗正常模式:100Ω显示单色LCD测量时间2ms(1kHz,FAST,代表值)功能比较器,分类测量(BIN功能),节点负载/补偿,记忆功能接口EXTI/O(处理器),USB通信(高速)选件:RS-232C,GP-IB,LAN任选一电源100~240VAC,50/60Hz,最大50VA尺寸及重量260mmW×88mmH×203mmD,2.4kg附件电源线×1,操作手册×1,CD-R(包括PC指令和样本软件)×1

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